Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Calibration sample for magnetic contrast in SEM

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26620%2F21%3APR36304" target="_blank" >RIV/00216305:26620/21:PR36304 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/calibration-sample-for-magnetic-contrast-imaging-in-sem/" target="_blank" >http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/calibration-sample-for-magnetic-contrast-imaging-in-sem/</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Calibration sample for magnetic contrast in SEM

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Three samples for magnetic domain imaging, with the 15x(Pt/Co) multilayer patterned areas exhibiting out-of-plane magnetization.

  • Název v anglickém jazyce

    Calibration sample for magnetic contrast in SEM

  • Popis výsledku anglicky

    Three samples for magnetic domain imaging, with the 15x(Pt/Co) multilayer patterned areas exhibiting out-of-plane magnetization.

Klasifikace

  • Druh

    G<sub>funk</sub> - Funkční vzorek

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    21001 - Nano-materials (production and properties)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/TN01000008" target="_blank" >TN01000008: Centrum elektronové a fotonové optiky</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2021

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Interní identifikační kód produktu

    NCK1 vysledek TN0100000810-V4

  • Číselná identifikace

    178318

  • Technické parametry

    Sample comprises three 10 x 10 mm silicon substrates with lithographically defined magnetic multilayers having square (2 m, 4 m, 5 m, 10 m and 20 m) and rectangular (2x4 m, 5x10 m and 10x20 m) shape. Additionally, several structures were irradiated by different energy ions utilizing FIB (Focused Ion Beam).

  • Ekonomické parametry

    Nepředpokládá se komercionalizace, funkční vzorek slouží pro interní potřeby VUT a TFS (partner projektu, spoluautori vysledku).

  • Kategorie aplik. výsledku dle nákladů

  • IČO vlastníka výsledku

    00216305

  • Název vlastníka

    Vysoké učení technické v Brně

  • Stát vlastníka

    CZ - Česká republika

  • Druh možnosti využití

    V - Výsledek je využíván vlastníkem

  • Požadavek na licenční poplatek

    A - Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek

  • Adresa www stránky s výsledkem

    http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/calibration-sample-for-magnetic-contrast-imaging-in-sem/