AFM mikroskop umožňující tzv. „fast imaging“, adaptivní skenování a SW moduly pro pokročilé zpracování obrazu korelativní mikroskopie

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F04525671%3A_____%2F23%3AN0000002" target="_blank" >RIV/04525671:_____/23:N0000002 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

AFM mikroskop umožňující tzv. „fast imaging“, adaptivní skenování a SW moduly pro pokročilé zpracování obrazu korelativní mikroskopie

Popis výsledku v původním jazyce

Mikroskop LiteScope je určen pro mikroskopické techniky rastrující sondou a byl navržen jako příslušenství elektronových mikroskopů. Rastrující sondová mikroskopie je ovšem principiálně daleko pomalenší než mikroskopie elektronová, a pro vzájemnou korelovanou mikroskopii je tedy velice přínosné snížení času nutného k měření obrázku a přiblížení ke standardním snímacím časům elektronových mikroskopů. Hlavní rozdíl obou technik spočívá ve způsobu detekce signálu, kdy mikroskop rastrující sondou využívá pohybu fyzické sondy v těsné blízkosti povrchu vzorku. Tento způsob snímání má například vysoké nároky na rychlost a přesnost zpětné vazby, která vzájemnou polohu vzorku a hrotu nastavuje. Standardní doba snímání topografie vzorku metodou mikroskopie atomárních sil je 15-30 minut a cílem „fast imaging“ modu je snížení tohoto času na hodnotu 3-5 min.

Název v anglickém jazyce

AFM microscope enabling so-called "fast imaging", adaptive scanning and SW modules for advanced correlative microscopy image processing

Popis výsledku anglicky

The LiteScope microscope is intended for scanning probe microscopy techniques and was designed as an accessory for electron microscopes. However, scanning probe microscopy is in principle much slower than electron microscopy, and it is therefore very beneficial for cross-correlated microscopy to reduce the time required to measure the image and approach the standard scanning times of electron microscopes. The main difference between the two techniques lies in the method of signal detection, where a scanning probe microscope uses the movement of a physical probe in close proximity to the surface of the sample. This method of scanning, for example, has high demands on the speed and accuracy of the feedback that sets the relative position of the sample and the tip. The standard time for scanning the topography of a sample using the atomic force microscopy method is 15-30 minutes, and the goal of the "fast imaging" mode is to reduce this time to 3-5 minutes.

Druh

G_prot - Prototyp

CEP obor

—

OECD FORD obor

20302 - Applied mechanics

Projekt

<a href="/cs/project/FV40238" target="_blank" >FV40238: Pokročilé mikroskopické techniky</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2023

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Interní identifikační kód produktu

FV 40238 - V2

Číselná identifikace

—

Technické parametry

Mikroskop LiteScope 2. generace je osazen novým skenerem Tritor 100/z20 (obr. 1) vyvíjeným v kooperaci s firmou Piezosystem Jena GmbH. Skener vychází z koncepce dříve využívaného skeneru, přičemž byla zmenšena jeho velikost, zvětšena tuhost zařízení a navýšena rezonanční frekvcence, která má přímý vliv na možnou rychlost skenování. Nový trojosý skener je určen pro měření v módu bez senzoru (open-loop) i se senzorem (closed-loop) a je možné jej vyrobit ve variantách pro nemagnetické prostředí i ultra vakuové. Funkčnost nového skeneru byla otestována a porovnána s první generací mikroskopu LiteScope. Na obr. 2 je znázorněno testování a vzájemné porovnání snímání kalibrační mřížky TGQ1 obou generací mikroskopu LiteScope. Mikroskop LiteScope 2.0 generace byl navíc osazen i novým předzesilovačem, který bude okomentován později. Z obrázku je patrná zvýšená kvalita obrázku při vyšších rychlostech s nižším šumem a menším počtem artefaktů elektrického rušení.

Ekonomické parametry

Vlastník výsledku očekává zvýšení tržeb a exportu až o 5 %.

Kategorie aplik. výsledku dle nákladů

—

IČO vlastníka výsledku

04525671

Název vlastníka

NenoVision s.r.o.

Stát vlastníka

CZ - Česká republika

Druh možnosti využití

V - Výsledek je využíván vlastníkem

Požadavek na licenční poplatek

A - Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek

Adresa www stránky s výsledkem

—