Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Magnetic Force Microscopy (MFM)

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F04525671%3A_____%2F23%3AN0000007" target="_blank" >RIV/04525671:_____/23:N0000007 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Magnetic Force Microscopy (MFM)

  • Popis výsledku v původním jazyce

    An application note is a document detailing the use of a technique or application of an instrument. The magnetic force microscopy (MFM) application note describes the principle of this technique, which involves mapping the magnetic field on the surface of a sample by scanning the topography with a magnetic moment tip. As an example application, a study of the domain structure on the surface of an intermetallic crystal that exhibits unusual magnetic properties is presented. This application note provides useful information on the use of MFM in the analysis of magnetic samples.

  • Název v anglickém jazyce

    Magnetic Force Microscopy (MFM)

  • Popis výsledku anglicky

    An application note is a document detailing the use of a technique or application of an instrument. The magnetic force microscopy (MFM) application note describes the principle of this technique, which involves mapping the magnetic field on the surface of a sample by scanning the topography with a magnetic moment tip. As an example application, a study of the domain structure on the surface of an intermetallic crystal that exhibits unusual magnetic properties is presented. This application note provides useful information on the use of MFM in the analysis of magnetic samples.

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    21000 - Nano-technology

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/FV40238" target="_blank" >FV40238: Pokročilé mikroskopické techniky</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2023

  • Kód důvěrnosti údajů

    C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.