High-resolution neutron diffraction for residual strain/stress investigations

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F26722445%3A_____%2F06%3A%230000476" target="_blank" >RIV/26722445:_____/06:#0000476 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
High-resolution neutron diffraction for residual strain/stress investigations
Popis výsledku v původním jazyce
In this paper, attractive properties of unconventional and high-resolution neutron diffraction performances exploiting cylindrically bent perfect (BPC) Si-crystal monochromators documented by experimental results, are presented. They permit high or evenultrahigh-resolution of macro- and microstrain scanning of bulk polycrystalline materials. The diffractometer using a dispersive type multiple reflection monochromator can operate with the resolution of the backscattering device, however, at a rather small monochromator take-off angle.
Název v anglickém jazyce
High-resolution neutron diffraction for residual strain/stress investigations
Popis výsledku anglicky
In this paper, attractive properties of unconventional and high-resolution neutron diffraction performances exploiting cylindrically bent perfect (BPC) Si-crystal monochromators documented by experimental results, are presented. They permit high or evenultrahigh-resolution of macro- and microstrain scanning of bulk polycrystalline materials. The diffractometer using a dispersive type multiple reflection monochromator can operate with the resolution of the backscattering device, however, at a rather small monochromator take-off angle.

Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)