Měřící setup pro zobrazovací XRF analýzu v kombinaci s APM-SIMS u stíraných vzorků jaderných materiálů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F26722445%3A_____%2F25%3AN0000008" target="_blank" >RIV/26722445:_____/25:N0000008 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/68407700:21340/24:00382273

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Měřící setup pro zobrazovací XRF analýzu v kombinaci s APM-SIMS u stíraných vzorků jaderných materiálů

Popis výsledku v původním jazyce

V této zprávě je popsán vývoj a testování XRF zařízení pro plošné skenování stíraných vzorků, které by mohly obsahovat stopy uranu. Toto zařízení je optimalizováno pro detekci uranu a je určeno pro aplikaci na měření izotopového složení uranových částic ve stíraných vzorcích jako součást měřící trasy popsané v metodice APM-SIMS. Tato měřící trasa, doplněná o XRF, má následující kroky: - plošné skenování stěru pomocí XRF zařízení, které je prvním krokem měřící trasy, - extrakce částic ze stěru na křemíkovou podložku s využitím XRF-mapy uranu, - hledání uranových částic mezi prachovými částicemi na křemíkové podložce pomocí hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů (SIMS) provozované v automatizovaném režimu (APM), - stanovení poměrů izotopů uranu s vysokou přesností a správností v jednotlivých vybraných uranových částicích pomocí SIMS v režimu mikrosondy, které je finální krokem měřící trasy. K sestavení XRF přístroje byly použity pouze komponenty dostupné na Katedře dozimetrie a aplikace ionizujícího záření na Fakultě jaderné a fyzikálně inženýrské, ČVUT v Praze. Komponenty a přístroje pro APM-SIMS jsou k dispozici v Centru výzkumu Řež s.r.o.

Název v anglickém jazyce

Measurement setup for imaging XRF analysis in combination with APM-SIMS on scraped samples of nuclear materials

Popis výsledku anglicky

This report describes the development and testing of an XRF device for area scanning of scraped samples that could contain traces of uranium. This device is optimized for uranium detection and is intended for application to measure the isotopic composition of uranium particles in scraped samples as part of the measurement path described in the APM-SIMS methodology. This measurement path, supplemented by XRF, has the following steps: - area scanning of the scrap using an XRF device, which is the first step of the measurement path, - extraction of particles from the scrap onto a silicon substrate using an XRF-map of uranium, - search for uranium particles among dust particles on a silicon substrate using secondary ion mass spectrometry (SIMS) operated in automated mode (APM), - determination of uranium isotope ratios with high precision and accuracy in individual selected uranium particles using SIMS in microprobe mode, which is the final step of the measurement path. To assemble the XRF instrument, only components available at the Department of Dosimetry and Applications of Ionizing Radiation at the Faculty of Nuclear and Physical Engineering, Czech Technical University in Prague were used. Components and instruments for APM-SIMS are available at the Řež Research Center s.r.o.

Druh

O - Ostatní výsledky

CEP obor

—

OECD FORD obor

10304 - Nuclear physics

Projekt

<a href="/cs/project/TITSSUJB315" target="_blank" >TITSSUJB315: Pokročilý proces mapování rozložení uranu ve stíraných vzorcích pro zárukové účely</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2025

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů