Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Využití optické mikroskopie a mikroskopie rastrující sondy pro hematologii.

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24210%2F13%3A%230005663" target="_blank" >RIV/46747885:24210/13:#0005663 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/46747885:24620/13:#0000232

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Využití optické mikroskopie a mikroskopie rastrující sondy pro hematologii.

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Tento článek se zabývá metodikou a využitím propojení výsledků dvou odlišných mikroskopických metod, světelnou optickou mikroskopií a mikroskopií rastrující sondy. Propojením těchto zcela odlišných metod lze získat vysoce detailní 3D zobrazení reálného povrchu vzorku doplněné o možnost měření mechanických ((idliczc, tuhosti) ČÍ jiných vlastností (el. či tepelná vodivosti, magnetické vlastnosti) v oblasti, z níž máme náhled získaný pomocí optické mikroskopie. K tomuto lze využít funkci Direct Overlay, pomoct níž. proložíme snímek z optického mikroskopu se skenem získaným mikroskopem atomárních sil. Využití této funkce je demonstrováno na krevním nátěru.

  • Název v anglickém jazyce

    Light optical microscopy and scanning probe microscopy in haematology.

  • Popis výsledku anglicky

    Present article describes the methodology and usage of a connection of light optical microscopy and scanning probe microscopy. Through the connection of these different microscopic methods it is possible to obtain high resolution 3-dimensional image of real sample surface supplemented by the possibility of mechanical or other properties measurement (Young modulus, adhesion, electrical and thermal conductivity, magnetic properties etc.) in the region of interest found by the light optical microscopy. This could be achieved through the Direct Overlay feature which enables correlation of light optical image and a scan obtained by the atomic force microscopy. The usage and potential of this function is demonstrated on the blood smear

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JB - Senzory, čidla, měření a regulace

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/ED0005%2F01%2F01" target="_blank" >ED0005/01/01: Centrum pro nanomateriály, pokrocilé technologie a inovace</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Jemná mechanika a optika

  • ISSN

    0447-6441

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    58

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    3

  • Strana od-do

    8-10

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus