Využití optické mikroskopie a mikroskopie rastrující sondy pro hematologii.
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24210%2F13%3A%230005663" target="_blank" >RIV/46747885:24210/13:#0005663 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/46747885:24620/13:#0000232
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Využití optické mikroskopie a mikroskopie rastrující sondy pro hematologii.
Popis výsledku v původním jazyce
Tento článek se zabývá metodikou a využitím propojení výsledků dvou odlišných mikroskopických metod, světelnou optickou mikroskopií a mikroskopií rastrující sondy. Propojením těchto zcela odlišných metod lze získat vysoce detailní 3D zobrazení reálného povrchu vzorku doplněné o možnost měření mechanických ((idliczc, tuhosti) ČÍ jiných vlastností (el. či tepelná vodivosti, magnetické vlastnosti) v oblasti, z níž máme náhled získaný pomocí optické mikroskopie. K tomuto lze využít funkci Direct Overlay, pomoct níž. proložíme snímek z optického mikroskopu se skenem získaným mikroskopem atomárních sil. Využití této funkce je demonstrováno na krevním nátěru.
Název v anglickém jazyce
Light optical microscopy and scanning probe microscopy in haematology.
Popis výsledku anglicky
Present article describes the methodology and usage of a connection of light optical microscopy and scanning probe microscopy. Through the connection of these different microscopic methods it is possible to obtain high resolution 3-dimensional image of real sample surface supplemented by the possibility of mechanical or other properties measurement (Young modulus, adhesion, electrical and thermal conductivity, magnetic properties etc.) in the region of interest found by the light optical microscopy. This could be achieved through the Direct Overlay feature which enables correlation of light optical image and a scan obtained by the atomic force microscopy. The usage and potential of this function is demonstrated on the blood smear
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JB - Senzory, čidla, měření a regulace
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/ED0005%2F01%2F01" target="_blank" >ED0005/01/01: Centrum pro nanomateriály, pokrocilé technologie a inovace</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Jemná mechanika a optika
ISSN
0447-6441
e-ISSN
—
Svazek periodika
58
Číslo periodika v rámci svazku
1
Stát vydavatele periodika
CZ - Česká republika
Počet stran výsledku
3
Strana od-do
8-10
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—