Test-per-Clock Testing of the Circuits with Scan
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F01%3A00000026" target="_blank" >RIV/46747885:24220/01:00000026 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Test-per-Clock Testing of the Circuits with Scan
Popis výsledku v původním jazyce
The article describes Test-per-Clock Testing of the Circuits with Scan.
Název v anglickém jazyce
Test-per-Clock Testing of the Circuits with Scan
Popis výsledku anglicky
The article describes Test-per-Clock Testing of the Circuits with Scan.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JC - Počítačový hardware a software
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F01%2F0566" target="_blank" >GA102/01/0566: Metody optimalizace vestavěných diagnostických prostředků v integrovaných obvodech</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proc. of 7th IEEE International On-Line Testing Workshop
ISBN
0-7695-1290-9
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
3
Strana od-do
90-92
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
Taormina, Italy
Místo konání akce
Taormina, Italy
Datum konání akce
9. 7. 2001
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—