Test Pattern Decompression Using a Scan Chain
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F01%3A00000027" target="_blank" >RIV/46747885:24220/01:00000027 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Test Pattern Decompression Using a Scan Chain
Popis výsledku v původním jazyce
The article describes Test Pattern Decompression Using a Scan Chain
Název v anglickém jazyce
Test Pattern Decompression Using a Scan Chain
Popis výsledku anglicky
The article describes Test Pattern Decompression Using a Scan Chain
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JC - Počítačový hardware a software
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F01%2F0566" target="_blank" >GA102/01/0566: Metody optimalizace vestavěných diagnostických prostředků v integrovaných obvodech</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proc. of the 2001 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
ISBN
0-7695-1203-8
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
110-115
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
San Francisco, California
Místo konání akce
San Francisco, California
Datum konání akce
24. 10. 2001
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—