About the measurement of the d33 piezoelectric coefficient of the PZT film - Si/SiO2/Ti/Pt substrates using an optical cryostat.

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F03%3A00000014" target="_blank" >RIV/46747885:24220/03:00000014 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
About the measurement of the d33 piezoelectric coefficient of the PZT film - Si/SiO2/Ti/Pt substrates using an optical cryostat.
Popis výsledku v původním jazyce
The measurement of d33 piezoelectric coefficient of the PZT thin film on substrate Si/SiO2/Ti/Pt and its dependence on frequency and voltage in the room temperature is presented. The mesurements of the piezoelectric-induced displacements in the temperature range 240 K to 330 K were provided by a double beam miniaturized interferometer that was placed in optical helium cryostat.
Název v anglickém jazyce
About the measurement of the d33 piezoelectric coefficient of the PZT film - Si/SiO2/Ti/Pt substrates using an optical cryostat.
Popis výsledku anglicky
The measurement of d33 piezoelectric coefficient of the PZT thin film on substrate Si/SiO2/Ti/Pt and its dependence on frequency and voltage in the room temperature is presented. The mesurements of the piezoelectric-induced displacements in the temperature range 240 K to 330 K were provided by a double beam miniaturized interferometer that was placed in optical helium cryostat.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—

Rok uplatnění
2003
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)