AmBRAMs - An Analysis Tool, Method and Framework for Advanced Measurements and Reliability Assessments on Modern Nanoscale FPGAs

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F15%3A%230003441" target="_blank" >RIV/46747885:24220/15:#0003441 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?reload=true&arnumber=7293963" target="_blank" >http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?reload=true&arnumber=7293963</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/FPL.2015.7293963" target="_blank" >10.1109/FPL.2015.7293963</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
AmBRAMs - An Analysis Tool, Method and Framework for Advanced Measurements and Reliability Assessments on Modern Nanoscale FPGAs
Popis výsledku v původním jazyce
Wide portfolio of new technologies in design and manufacturing of advanced integrated circuits enabled higher integration of complex structures at ultra-high nanoscale densities, however they are subjects to sensitivity to various changes of the internal nanostructures and their parameters, resulting in the requirement of advanced measurements and complex reliability assessments. This contribution presents a new concept of a lab-on-chip and a new unique software platform.
Název v anglickém jazyce
AmBRAMs - An Analysis Tool, Method and Framework for Advanced Measurements and Reliability Assessments on Modern Nanoscale FPGAs
Popis výsledku anglicky
Wide portfolio of new technologies in design and manufacturing of advanced integrated circuits enabled higher integration of complex structures at ultra-high nanoscale densities, however they are subjects to sensitivity to various changes of the internal nanostructures and their parameters, resulting in the requirement of advanced measurements and complex reliability assessments. This contribution presents a new concept of a lab-on-chip and a new unique software platform.

Projekt
<a href="/cs/project/LD13019" target="_blank" >LD13019: SPONA - Zvýšení spolehlivosti nanoscale obvodů</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
25th International Conference on Field Programmable Logic and Applications, FPL 2015
ISBN
9780993428005
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
—
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
London
Místo konání akce
London
Datum konání akce
1. 1. 2015
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)