Confidence Intervals for Luminous Flicker Measurements: Comparison of Various Approaches

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F20%3A00008447" target="_blank" >RIV/46747885:24220/20:00008447 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/46747885:24410/20:00008447
Výsledek na webu
<a href="https://ieeexplore.ieee.org/document/9334743" target="_blank" >https://ieeexplore.ieee.org/document/9334743</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/IAS44978.2020.9334743" target="_blank" >10.1109/IAS44978.2020.9334743</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Confidence Intervals for Luminous Flicker Measurements: Comparison of Various Approaches
Popis výsledku v původním jazyce
This paper aims to assess the effect of measurement noise on the evaluation of the flicker metrics defined in IEEE Standard 1789-2015. To this end we compare two analytical approaches and Monte Carlo simulations w.r.t. their ability to cope with natural bias of FP and to estimate measurement uncertainty. Two similar datasets from laboratory experiment representing luminous fluctuations of fluorescent light are considered. Recommendations on how to safely evaluate Percentual Flicker and Flicker Index are given based on the hereby presented work.
Název v anglickém jazyce
Confidence Intervals for Luminous Flicker Measurements: Comparison of Various Approaches
Popis výsledku anglicky
This paper aims to assess the effect of measurement noise on the evaluation of the flicker metrics defined in IEEE Standard 1789-2015. To this end we compare two analytical approaches and Monte Carlo simulations w.r.t. their ability to cope with natural bias of FP and to estimate measurement uncertainty. Two similar datasets from laboratory experiment representing luminous fluctuations of fluorescent light are considered. Recommendations on how to safely evaluate Percentual Flicker and Flicker Index are given based on the hereby presented work.

Rok uplatnění
2020
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
2020 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting, IAS 2020
ISBN
978-172817192-0
ISSN
0197-2618
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
—
Název nakladatele
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Místo vydání
—
Místo konání akce
Detroit, USA
Datum konání akce
1. 1. 2020
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000680413800035

Podobné výsledky(10)