Methodology for manufacturing improvement
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F06%3A00502631" target="_blank" >RIV/49777513:23220/06:00502631 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Methodology for manufacturing improvement
Popis výsledku v původním jazyce
The paper deals with the new CQT methodology approach to the improvement of the process control in printed circuit board (PCB) manufacturing. The CQT methodology is based on the application of the selected methods and tools. The applied methods cover twokey areas. The first area contains methods for description and modelling of processes. The second area contains methods for optimizing of processes. The used tools are focused on performance measurement and optimizing of process (optimizing of cost, process time and quality). This methodology supports process control towards quality improvement, cost and processes time reduction. The paper shows main features of the CQT methodology on the practical example of the PCB manufacturing.
Název v anglickém jazyce
Methodology for manufacturing improvement
Popis výsledku anglicky
The paper deals with the new CQT methodology approach to the improvement of the process control in printed circuit board (PCB) manufacturing. The CQT methodology is based on the application of the selected methods and tools. The applied methods cover twokey areas. The first area contains methods for description and modelling of processes. The second area contains methods for optimizing of processes. The used tools are focused on performance measurement and optimizing of process (optimizing of cost, process time and quality). This methodology supports process control towards quality improvement, cost and processes time reduction. The paper shows main features of the CQT methodology on the practical example of the PCB manufacturing.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
ISSE 2006
ISBN
978-1-4244-0550-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
—
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
New York
Místo konání akce
St. Marienthal
Datum konání akce
14. 5. 2006
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
000246825800012