Stárnutí pulzně namáhané drážkové izolace
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F07%3A00502890" target="_blank" >RIV/49777513:23220/07:00502890 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Stárnutí pulzně namáhané drážkové izolace
Popis výsledku v původním jazyce
Elektrická a elektronická zařízení jsou vystavena vlivům, které způsobují elektrické stárnutí (vysoké napětí, vysoká frekvence). Tyto vlivy způsobují degradaci a stárnutí izolace a tím způsobují zkrácení života nebo vedou k předčasnému selhání. K určenívlivu těchto faktorů na životnost izolace musíme izolaci vystavit umělým podmínkám. Urychlenému stárnutí pomocí zvýšeného elektrického namáhání různých tvarů napětí a různých frekvencí.
Název v anglickém jazyce
Aging of slot insulation under pulse stress
Popis výsledku anglicky
Electrical insulation in electrical and electronic equipments is subjected to electrical aging factors (high voltage, high frequency). These aging factors cause degradation and aging of the insulation, thereby leading to reduce lifetime or premature failure. To determine how these factors are affecting the lifetime of the electrical insulation, the insulation must be evaluated under simulated service condition. This is done by accelerated aging tests at high electrical stresses and at various voltage waveforms and frequencies.
Klasifikace
Druh
O - Ostatní výsledky
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů