Experimentální metody pro určování vlastností tenkých vrstev v oblasti fotovoltaiky II. a III. generace

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F11%3A43897280" target="_blank" >RIV/49777513:23220/11:43897280 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Experimentální metody pro určování vlastností tenkých vrstev v oblasti fotovoltaiky II. a III. generace

Popis výsledku v původním jazyce

Tento příspěvek se věnuje dvěma z nejpoužívanějších experimentálních metod pro určování vlastností tenkých vrstev v oblasti fotovoltaiky 2. a 3. generace. První část tohoto příspěvku je velmi stručným úvodem do problematiky tenkovrstvé fotovoltaiky. Další část se zabývá strukturálními vlastnostmi tenkých vrstev a jejich určováním s využitím rentgenové difrakce. Poslední část příspěvku je zaměřena na určování optických vlastností metodou UV-VIS spektroskopie.

Název v anglickém jazyce

Experimental methods for determining properties of thin films in photovoltaic 2nd and 3rd generation

Popis výsledku anglicky

The paper discusses two of the most widely used experimental methods for determining properties of thin films in the photovoltaic 2nd and 3rd generation. The first part of this paper is very shortly introduction to problems of thin film photovoltaic. Thenext part deals with the structural properties of thin film and their determining using X-ray diffraction. Last part of paper puts brain to determining optical properties using UV-VIS spectrometry.

Druh

O - Ostatní výsledky

CEP obor

JE - Nejaderná energetika, spotřeba a užití energie

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů