Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Test of ultra fast silicon detectors for the TOTEM upgrade project

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F17%3A43950784" target="_blank" >RIV/49777513:23220/17:43950784 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/12/03/P03024" target="_blank" >http://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/12/03/P03024</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/12/03/P03024" target="_blank" >10.1088/1748-0221/12/03/P03024</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Test of ultra fast silicon detectors for the TOTEM upgrade project

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper describes the performance of a prototype timing detector, based on 50 um thick Ultra Fast Silicon Detector, as measured in a beam test using a 180 GeV/c momentum pion beam. The dependence of the time precision on the pixel capacitance and bias voltage is investigated in this paper. A timing precision from 30 ps to 100 ps (RMS), depending on the pixel capacitance, has been measured at a bias voltage of 180 V.

  • Název v anglickém jazyce

    Test of ultra fast silicon detectors for the TOTEM upgrade project

  • Popis výsledku anglicky

    This paper describes the performance of a prototype timing detector, based on 50 um thick Ultra Fast Silicon Detector, as measured in a beam test using a 180 GeV/c momentum pion beam. The dependence of the time precision on the pixel capacitance and bias voltage is investigated in this paper. A timing precision from 30 ps to 100 ps (RMS), depending on the pixel capacitance, has been measured at a bias voltage of 180 V.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2017

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Instrumentation

  • ISSN

    1748-0221

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    12

  • Číslo periodika v rámci svazku

    March

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    9

  • Strana od-do

    0-8

  • Kód UT WoS článku

    000406997600024

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85016157773