Maximum achievable N content in atom-by-atom growth of amorphous Si‒C‒N
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23520%2F20%3A43959301" target="_blank" >RIV/49777513:23520/20:43959301 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://dx.doi.org/10.1021/acsami.0c08300" target="_blank" >https://dx.doi.org/10.1021/acsami.0c08300</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1021/acsami.0c08300" target="_blank" >10.1021/acsami.0c08300</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Maximum achievable N content in atom-by-atom growth of amorphous Si‒C‒N
Popis výsledku v původním jazyce
The maximum achievable N content in Si‒C‒N is examined by combining ab-initio molecular dynamics simulations in a wide range of compositions and densities with experimental data. When and only when the simulation algorithm allows the formation and final presence of N2 molecules, the densities leading to the deepest local energy minima are in agreement with the experiment. The main attention is paid to unbonded N2 molecules, with the aim to predict and explain the maximum content of N bonded in the amorphous networks. There are significant differences resulting from different compositions, ranging from no N2 at the lowest-energy density of a Si3N4 (57 at.% of bonded N) to many N2 at the lowest-energy density of a-C3N4 (42 at.% of bonded N). The theoretical prediction is in agreement with experimental results of reactive magnetron sputtering at varied Si + C sputter target composition and N2 partial pressure.
Název v anglickém jazyce
Maximum achievable N content in atom-by-atom growth of amorphous Si‒C‒N
Popis výsledku anglicky
The maximum achievable N content in Si‒C‒N is examined by combining ab-initio molecular dynamics simulations in a wide range of compositions and densities with experimental data. When and only when the simulation algorithm allows the formation and final presence of N2 molecules, the densities leading to the deepest local energy minima are in agreement with the experiment. The main attention is paid to unbonded N2 molecules, with the aim to predict and explain the maximum content of N bonded in the amorphous networks. There are significant differences resulting from different compositions, ranging from no N2 at the lowest-energy density of a Si3N4 (57 at.% of bonded N) to many N2 at the lowest-energy density of a-C3N4 (42 at.% of bonded N). The theoretical prediction is in agreement with experimental results of reactive magnetron sputtering at varied Si + C sputter target composition and N2 partial pressure.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
20506 - Coating and films
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA19-14011S" target="_blank" >GA19-14011S: Design nových funkčních materiálů, a cest pro jejich reaktivní magnetronové naprašování, pomocí pokročilých počítačových simulací</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2020
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
ACS Applied Materials and Interfaces
ISSN
1944-8244
e-ISSN
—
Svazek periodika
12
Číslo periodika v rámci svazku
37
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
41666-41673
Kód UT WoS článku
000572965700072
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85091191944