Funkční vzorek měřicího systému pro zachycení časového průběhu fázových a strukturních změn materiálu probíhajících v řádu nanosekund
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F13%3A43921020" target="_blank" >RIV/49777513:23640/13:43921020 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Funkční vzorek měřicího systému pro zachycení časového průběhu fázových a strukturních změn materiálu probíhajících v řádu nanosekund
Popis výsledku v původním jazyce
Popisuje se funkční vzorek měřicího systému pro sledování fázových a strukturních změn materiálu v průběhu a po laserovém pulzu s délkou v řádu desítek a stovek nanosekund. Funkční vzorek byl vyvinut s využitím přístrojového vybavení pořízeného z projektu CENTEM s registračním číslem CZ.1.05/2.1.00/03.0088. Měřicí systém sestává z dvou rychlých křemíkových diod s různým uspořádáním optiky, červeného laseru a UV-VIS-NIR spektrometru. Jako zdroj tepla je používán pulzní vláknový laser s průměrným výkonem20 W a s vlnovou délkou 1064 nm. Měřicí systém umožňuje synchronizované velmi rychlé měření odraženého záření vláknového laseru, povrchem emitovaného záření a odraženého záření červeného kontinuálního laseru. Zároveň umožňuje měření spektrálního rozložení odrazu a emise záření v řádu milisekund. Z naměřených dat je možné zkoumat, zda probíhá tavení, ablace a tvorba plazmatu a případně v jaké intenzitě.
Název v anglickém jazyce
Function sample of a measurement system for investigation of phase and structural changes in material in nanosecond time range
Popis výsledku anglicky
The function sample of a measurement system is described for investigation of phase and structural changes during and after a laser pulse with duration of tens and hundreds of nanoseconds. The function sample has been developed by using instruments acquired in the project CENTEM No.CZ.1.05/2.1.00/03.0088. The measurement system consists of two fast silicon photodiodes with different configuration of optics, red laser and UV-VIS-NIR spectrometer. As a source of heat, a pulsed fiber laser is used with average power of 20 W and wavelength 1064 nm. The measurement system enables fast synchronized measurement of reflected light of fiber laser, emitted radiation of the surface and reflected radiation of red continuous laser. At the same time, it is possibleto measure spectral distribution of radiation and emission at millisecond time range. From the measured data, it is possible to investigate the processes of melting, ablation and plasma formation and their intensities.
Klasifikace
Druh
G<sub>funk</sub> - Funkční vzorek
CEP obor
JB - Senzory, čidla, měření a regulace
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0088" target="_blank" >ED2.1.00/03.0088: Centrum nových technologií a materiálů (CENTEM)</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Interní identifikační kód produktu
NTC-FVZ-13-005
Číselná identifikace
—
Technické parametry
Vyrobený funkční vzorek umožňuje provádět výzkum tepelných dějů v řádech nanosekund. David Lávička, Západočeská univerzita v Plzni (IČO 49777513), Nové technologie - výzkumné centrum, Univerzitní 8, 306 14 Plzeň, 377634714, dlavicka@ntc.zcu.cz. Viz odkazhttp://www.ntc.zcu.cz/vysledky/fv/NTC-FVZ-13-005.html
Ekonomické parametry
Výsledek je využíván příjemcem Západočeská univerzita v Plzni (IČO 49777513), ekonomické parametry se neuvádí.
Kategorie aplik. výsledku dle nákladů
—
IČO vlastníka výsledku
49777513
Název vlastníka
Západočeská univerzita v Plzni
Stát vlastníka
CZ - Česká republika
Druh možnosti využití
N - Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)
Požadavek na licenční poplatek
—
Adresa www stránky s výsledkem
—