Rentgenová difrakční analýza fázového složení materiálů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F14%3A43923935" target="_blank" >RIV/49777513:23640/14:43923935 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Rentgenová difrakční analýza fázového složení materiálů

Popis výsledku v původním jazyce

Difrakce rentgenového záření je jednou z nejúčinnějších metod identifikace krystalických látek a kvantitativní analýzy jejich fázového složení. Metoda vychází z toho, že difraktogram látky je pro ni tak specifický, jako třeba otisk palce pro člověka, a může tedy sloužit pro její identifikaci. Ve směsi generují její komponenty svou difrakční odezvu nezávisle, což umožňuje určit jejich kvantitativní zastoupení. Článek popisuje fyzikální principy a matematický model této techniky. Diskutují se její slabosti a omezení, zejména pak vliv, který může mít na přesnost a správnost výsledků kvantitativní rentgenové difrakční fázové analýzy materiálu jeho reálná struktura. Hovoří se také o určování fázového složení pomocí difrakce elektronů a neutronů a o tom, jakse tyto metody liší od fázové analýzy pomocí difrakce rentgenového záření. Zvláštní odstavec je věnován využití faktorové analýzy.

Název v anglickém jazyce

X-ray Diffraction Phase Analysis of Materials

Popis výsledku anglicky

X-ray diffraction is one of the most efficient methods for identification of crystalline substances and quantitative analysis of their phase composition. Diffraction patterns can be used for identification of substances due to the fact that a diffractionpattern is characteristic for the given substance in the same way as a fingerprint is characteristic for a person. The method is moreover capable of development as a quantitative analysis, because each substance in a mixture produces its diffraction pattern independently of the others. The present paper describes a mathematical model of this method. In the model, the individual diffraction patterns are assigned to the vectors of a Euclidean space of suitable dimensionality (pattern vectors), which reduces the X-ray diffraction phase analysis of an unknown sample to the problem of expression of the diffraction pattern vector of an unknown sample as a linear combination of the diffraction pattern vectors of individual known standards (sa

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0088" target="_blank" >ED2.1.00/03.0088: Centrum nových technologií a materiálů (CENTEM)</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Hutnické listy

ISSN

0018-8069

e-ISSN

—

Svazek periodika

67

Číslo periodika v rámci svazku

5

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

2-7

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—