Survey of emissivity measurement by radiometric methods

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F15%3A43924868" target="_blank" >RIV/49777513:23640/15:43924868 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1364/AO.54.000669" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1364/AO.54.000669</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1364/AO.54.000669" target="_blank" >10.1364/AO.54.000669</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Survey of emissivity measurement by radiometric methods

Popis výsledku v původním jazyce

A survey of the state-of-the-art in the field of spectral directional emissivity measurements by using radiometric methods is presented. Individual quantity types such as spectral, band, or total emissivity are defined. Principles of emissivity measurement by various methods (direct and indirect, and calorimetric and radiometric) are discussed. The paper is focused on direct radiometric methods. An overview of experimental setups is provided, including the design of individual parts, such as the appliedreference sources of radiation, systems of sample clamping and heating, detection systems, methods for the determination of surface temperature, and procedures for emissivity evaluation.

Název v anglickém jazyce

Survey of emissivity measurement by radiometric methods

Popis výsledku anglicky

A survey of the state-of-the-art in the field of spectral directional emissivity measurements by using radiometric methods is presented. Individual quantity types such as spectral, band, or total emissivity are defined. Principles of emissivity measurement by various methods (direct and indirect, and calorimetric and radiometric) are discussed. The paper is focused on direct radiometric methods. An overview of experimental setups is provided, including the design of individual parts, such as the appliedreference sources of radiation, systems of sample clamping and heating, detection systems, methods for the determination of surface temperature, and procedures for emissivity evaluation.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JB - Senzory, čidla, měření a regulace

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0088" target="_blank" >ED2.1.00/03.0088: Centrum nových technologií a materiálů (CENTEM)</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2015

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Applied Optics

ISSN

1559-128X

e-ISSN

—

Svazek periodika

54

Číslo periodika v rámci svazku

4

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

15

Strana od-do

669-683

Kód UT WoS článku

000349161300044

EID výsledku v databázi Scopus

—