Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Sensitivity analysis of high temperature spectral emissivity measurement method

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F15%3A43925704" target="_blank" >RIV/49777513:23640/15:43925704 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.infrared.2015.04.005" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.infrared.2015.04.005</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.infrared.2015.04.005" target="_blank" >10.1016/j.infrared.2015.04.005</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Sensitivity analysis of high temperature spectral emissivity measurement method

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Computer model of temperature distribution in the sample in high temperature spectral emissivity measurement method is introduced. Sensitivity analysis is performed using computer model to determine the effect of various measurement method parameters onthe sample temperatures. The effects of measured and reference coating thicknesses, measured coating emissivity and sample surface temperature are analyzed. The utilization of temperature difference between reference coating surface and the interface ofreference and measured coatings for total emissivity uncertainty of measured coating is demonstrated.

  • Název v anglickém jazyce

    Sensitivity analysis of high temperature spectral emissivity measurement method

  • Popis výsledku anglicky

    Computer model of temperature distribution in the sample in high temperature spectral emissivity measurement method is introduced. Sensitivity analysis is performed using computer model to determine the effect of various measurement method parameters onthe sample temperatures. The effects of measured and reference coating thicknesses, measured coating emissivity and sample surface temperature are analyzed. The utilization of temperature difference between reference coating surface and the interface ofreference and measured coatings for total emissivity uncertainty of measured coating is demonstrated.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Infrared Physics &amp; Technology

  • ISSN

    1350-4495

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    71

  • Číslo periodika v rámci svazku

    červenec 2015

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    217-222

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus