Nanocolumnar growth of sputtered ZnO thin films
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F15%3A43926332" target="_blank" >RIV/49777513:23640/15:43926332 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2015.04.009" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2015.04.009</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2015.04.009" target="_blank" >10.1016/j.tsf.2015.04.009</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Nanocolumnar growth of sputtered ZnO thin films
Popis výsledku v původním jazyce
Sequential sputtering technology was developed for the formation of transparent and conductive very thin films of ZnO doped by Al (AZO) with a nanocolumnar polycrystalline structure. The characterization of their properties, including structural (scanning electron microscopy, X-ray diffractometry), electrical (Hall measurements) and optical (visible spectrometry, ellipsometry), was performed. AZO thin films with thicknesses of approximately 100 nm were prepared with a pronounced nanocolumnar and (002) textured crystalline structure, sufficient low resistivity (ALMOST EQUAL TO 10MINUS SIGN 1 ? cm), satisfactory optical transparency (ALMOST EQUAL TO 90%) and adequate refractive index (ALMOST EQUAL TO 2.0) for future applications in biochemical sensors.
Název v anglickém jazyce
Nanocolumnar growth of sputtered ZnO thin films
Popis výsledku anglicky
Sequential sputtering technology was developed for the formation of transparent and conductive very thin films of ZnO doped by Al (AZO) with a nanocolumnar polycrystalline structure. The characterization of their properties, including structural (scanning electron microscopy, X-ray diffractometry), electrical (Hall measurements) and optical (visible spectrometry, ellipsometry), was performed. AZO thin films with thicknesses of approximately 100 nm were prepared with a pronounced nanocolumnar and (002) textured crystalline structure, sufficient low resistivity (ALMOST EQUAL TO 10MINUS SIGN 1 ? cm), satisfactory optical transparency (ALMOST EQUAL TO 90%) and adequate refractive index (ALMOST EQUAL TO 2.0) for future applications in biochemical sensors.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Thin Solid Films
ISSN
0040-6090
e-ISSN
—
Svazek periodika
591
Číslo periodika v rámci svazku
30. září 2015
Stát vydavatele periodika
CH - Švýcarská konfederace
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
230-236
Kód UT WoS článku
000362008000015
EID výsledku v databázi Scopus
—