Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Analýza spektrální normálové emisivity SiC povlaků

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F18%3A43954558" target="_blank" >RIV/49777513:23640/18:43954558 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Analýza spektrální normálové emisivity SiC povlaků

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Bylo provedeno měření spektrální normálové emisivity SiC povlaků deponovaných na grafitových substrátech na pokojové teplotě a na vysokých teplotách (od 300°C do 1000°C s teplotním krokem 100°C). Na pokojové teplotě byla emisivita měřena nepřímou metodou SNHRRT-MIR (ttp.zcu.cz/cz/laboratore/opticke-vlastnosti/metody/snhrrt), kde měřenou veličinou je odrazivost a emisivita je dopočtena podle Kirchhoffova zákona jako doplněk do 1. Na vysokých teplotách byla emisivita měřena na vzduchu přímou metodou SNEHT (ttp.zcu.cz/cz/laboratore/opticke-vlastnosti/metody/sneht) ve spektrálním rozsahu od 1.38 do 26 μm (dolní hranice závisí na teplotě, např. 2.5 μm pro teplotu 300°C). Výsledky byly zpracovány do protokolů a datových souborů pro každý vzorek a teplotu; včetně nejistoty měření.

  • Název v anglickém jazyce

    Analysis of spectral normal emissivity of SiC coatings

  • Popis výsledku anglicky

    Measurement of spectral normal emissivity of SiC coatings deposited on the graphite substrates at room temperature and hight temperatures (from 300°C to 1000°C with temperature step 100°C) was done. At room temperature, the emissivity was measured by an indirect measurement method SNHRRT-MIR (ttp.zcu.cz/en/laboratories/optical-properties/methods/snhrrt). In this method, the measured value is a reflectance and the emissivity is evaluated according to Kirchhoff&apos;s law as a complement to one (100%). At high temperatures, the emissivity was measured in air by a direct measurement method SNEHT (ttp.zcu.cz/en/laboratories/optical-properties/methods/sneht) in the spectral range from 1.38 to 26 μm (the low end depends on temperature - 2.5 μm at 300°C for example). The results were formulated to the protocols and data files for each sample and temperature; including uncertainty.

Klasifikace

  • Druh

    V<sub>souhrn</sub> - Souhrnná výzkumná zpráva

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20506 - Coating and films

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Počet stran výsledku

    27

  • Místo vydání

  • Název nakladatele resp. objednatele

    Schunk Xycarb Technology

  • Verze