Analýza pohltivosti a emisivity SiC povlaků

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F21%3A43963820" target="_blank" >RIV/49777513:23640/21:43963820 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Analýza pohltivosti a emisivity SiC povlaků

Popis výsledku v původním jazyce

Byla provedena analýza spektrální normálové pohltivosti a emisivity SiC povlaků deponovaných na grafitových substrátech za pokojové a vysoké teploty (až do 1000°C). Výsledky byly zpracovány do protokolů a datových souborů pro každý vzorek a teplotu; včetně nejistoty měření.

Název v anglickém jazyce

Absorptivity and emissivity analysis of SiC coatings

Popis výsledku anglicky

Analysis of spectral normal absorptivity and emissivity of SiC coatings deposited on the graphite substrates at room temperature and hight temperatures (up to 1000°C) was done. The results were formulated to the protocols and data files for each sample and temperature; including uncertainty.

Druh

V_souhrn - Souhrnná výzkumná zpráva

CEP obor

—

OECD FORD obor

20506 - Coating and films

Projekt

—

Návaznosti

N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju

Rok uplatnění

2021

Kód důvěrnosti údajů

C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Počet stran výsledku

12

Místo vydání

—

Název nakladatele resp. objednatele

Schunk Xycarb Technology

Verze

—