Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Characterization of Yeast Biofilm by Cryo-SEM and FIB-SEM

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60077344%3A_____%2F13%3A00421779" target="_blank" >RIV/60077344:_____/13:00421779 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/68081731:_____/13:00421779 RIV/00216305:26210/13:PU104934

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Characterization of Yeast Biofilm by Cryo-SEM and FIB-SEM

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Yeasts like Candida parapsilosis as well as Candida albicans has been recently recognized as an important cause of serious biofilm infections associated with implanted medical devices. The multi-layered biofilms formed by these microorganisms were observed by cryo-scanning electron microscope (cryo-SEM) with using freeze-fracturing technique and by focused ion beam scanning electron microscopy (FIB-SEM). Both imaging methods are compared.

  • Název v anglickém jazyce

    Characterization of Yeast Biofilm by Cryo-SEM and FIB-SEM

  • Popis výsledku anglicky

    Yeasts like Candida parapsilosis as well as Candida albicans has been recently recognized as an important cause of serious biofilm infections associated with implanted medical devices. The multi-layered biofilms formed by these microorganisms were observed by cryo-scanning electron microscope (cryo-SEM) with using freeze-fracturing technique and by focused ion beam scanning electron microscopy (FIB-SEM). Both imaging methods are compared.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Microscopy and Microanalysis

  • ISSN

    1431-9276

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    19

  • Číslo periodika v rámci svazku

    S2

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    226-227

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus