Characterization of Yeast Biofilm by Cryo-SEM and FIB-SEM

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60077344%3A_____%2F13%3A00421779" target="_blank" >RIV/60077344:_____/13:00421779 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68081731:_____/13:00421779 RIV/00216305:26210/13:PU104934
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Characterization of Yeast Biofilm by Cryo-SEM and FIB-SEM
Popis výsledku v původním jazyce
Yeasts like Candida parapsilosis as well as Candida albicans has been recently recognized as an important cause of serious biofilm infections associated with implanted medical devices. The multi-layered biofilms formed by these microorganisms were observed by cryo-scanning electron microscope (cryo-SEM) with using freeze-fracturing technique and by focused ion beam scanning electron microscopy (FIB-SEM). Both imaging methods are compared.
Název v anglickém jazyce
Characterization of Yeast Biofilm by Cryo-SEM and FIB-SEM
Popis výsledku anglicky
Yeasts like Candida parapsilosis as well as Candida albicans has been recently recognized as an important cause of serious biofilm infections associated with implanted medical devices. The multi-layered biofilms formed by these microorganisms were observed by cryo-scanning electron microscope (cryo-SEM) with using freeze-fracturing technique and by focused ion beam scanning electron microscopy (FIB-SEM). Both imaging methods are compared.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)