Analýza spolehlivosti a bezporuchovosti integrovaných obvodů
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60162694%3AG43__%2F03%3A%230001246" target="_blank" >RIV/60162694:G43__/03:#0001246 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Analýza spolehlivosti a bezporuchovosti integrovaných obvodů
Popis výsledku v původním jazyce
Příspěvek na jednoduchých příkladech ukazuje možnosti diagnostiky integrovaných obvodů a způsoby lokalizace různých typů poruch v integrovaných obvodech pomocí moderních lokalizačních metod.
Název v anglickém jazyce
Integrated circuit reliability analysis and testing procedures
Popis výsledku anglicky
This article deals with electronic component diagnostic respectively with fault localization. It shows methods used for detection and localization as light emission caused by fault or surface potential distribution and voltage contrast.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
KA - Vojenství
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2003
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Měření, diagnostika, spolehlivost palubních soustav letadel
ISBN
—
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
1-4
Název nakladatele
Univerzita obrany
Místo vydání
Brno, Česká Republika
Místo konání akce
Brno, Česká Republika
Datum konání akce
1. 1. 2003
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—