Non-Stationary Statistical Simulation of Blind-Oversampling CDR Circuits
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60162694%3AG43__%2F13%3A00498779" target="_blank" >RIV/60162694:G43__/13:00498779 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216305:26220/13:PU105876
Výsledek na webu
<a href="http://vavtest.unob.cz/registr" target="_blank" >http://vavtest.unob.cz/registr</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Non-Stationary Statistical Simulation of Blind-Oversampling CDR Circuits
Popis výsledku v původním jazyce
Statistical approach is the only practical set of methods for reliable simulation of Clock and Data Recovery circuits which operate at low bit-error rates. The paper deals with a statistical simulation model for blind-oversampling CDR circuits, which estimate the center of the data eye by counting the edges in several subintervals that divide the signal period. In the steady-state, the process is described by the multinomial distribution. The developed model simulates the estimation process in the non-stationary case, which allows including sinusoidal jitter, and frequency offset. Some simulation results are presented.
Název v anglickém jazyce
Non-Stationary Statistical Simulation of Blind-Oversampling CDR Circuits
Popis výsledku anglicky
Statistical approach is the only practical set of methods for reliable simulation of Clock and Data Recovery circuits which operate at low bit-error rates. The paper deals with a statistical simulation model for blind-oversampling CDR circuits, which estimate the center of the data eye by counting the edges in several subintervals that divide the signal period. In the steady-state, the process is described by the multinomial distribution. The developed model simulates the estimation process in the non-stationary case, which allows including sinusoidal jitter, and frequency offset. Some simulation results are presented.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of 2013 IEEE Fourth Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS 2013)
ISBN
978-1-4244-9485-9
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
1-4
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
Cusco, Peru
Místo konání akce
Cusco, Peru
Datum konání akce
1. 1. 2013
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000324855900067