Závislost tloušťky indexu lomu a optického gapu PMMA vrstev připravených pod elektrickým polem
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22310%2F08%3A00020061" target="_blank" >RIV/60461373:22310/08:00020061 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Thickness dependence of refractive index and optical gap of PMMA layers prepared under electrical field
Popis výsledku v původním jazyce
Thickness dependence of refractive index and optical gap of PMMA layers prepared under electrical field
Název v anglickém jazyce
Thickness dependence of refractive index and optical gap of PMMA layers prepared under electrical field
Popis výsledku anglicky
Thickness dependence of refractive index and optical gap of PMMA layers prepared under electrical field
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
CD - Makromolekulární chemie
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2008
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Materials Science: Materials in Electronics
ISSN
0957-4522
e-ISSN
—
Svazek periodika
19
Číslo periodika v rámci svazku
4
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000253050800013
EID výsledku v databázi Scopus
—