Charakterizace měděných SERS aktivních substrátů pomocí mikroskopie atomárních sil a skenovací elektronové mikroskopie

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22340%2F08%3A00020229" target="_blank" >RIV/60461373:22340/08:00020229 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

AFM and SEM study of copper SERS-active substrates

Popis výsledku v původním jazyce

Surface Enhanced Raman Scattering (SERS) spectroscopy is a powerful analytical technique usually providing a Raman signal enhancement of ca 106. SERS is based on the inelastic photon scattering of molecules positioned in the proximity of a nanostructuredmetal surface. This method is widely applied to study a variety of problems in electrochemistry, surface science, material science, nanotechnology and biochemistry. In the present work, we have studied Raman enhancement in the dependence on the surfacemorphology of copper SERS-active substrates prepared in different ways, which was determined by using Atomic Force Microscopy (AFM) and Scanning Electron Microscopy (SEM). SERS spectra of selected organic thiols were measured and the relation between SERS efficiency and the surface structure of SERS-active substrates was described.

Název v anglickém jazyce

AFM and SEM study of copper SERS-active substrates

Popis výsledku anglicky

Surface Enhanced Raman Scattering (SERS) spectroscopy is a powerful analytical technique usually providing a Raman signal enhancement of ca 106. SERS is based on the inelastic photon scattering of molecules positioned in the proximity of a nanostructuredmetal surface. This method is widely applied to study a variety of problems in electrochemistry, surface science, material science, nanotechnology and biochemistry. In the present work, we have studied Raman enhancement in the dependence on the surfacemorphology of copper SERS-active substrates prepared in different ways, which was determined by using Atomic Force Microscopy (AFM) and Scanning Electron Microscopy (SEM). SERS spectra of selected organic thiols were measured and the relation between SERS efficiency and the surface structure of SERS-active substrates was described.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

CI - Průmyslová chemie a chemické inženýrství

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

CD ROM konference CHISA 2008

ISBN

978-80-02-02047-9

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

10

Strana od-do

—

Název nakladatele

Czech Society of Chemical Engineering

Místo vydání

Praha

Místo konání akce

Praha

Datum konání akce

24. 8. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—