Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Detekce a vyhodnocení tenkých organických vrstev nanesených na kovovém substrátu Ramanovou spektroskopií: systematický přístup od tvorby substrátu po vyhodnocení spektrálních map

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22340%2F08%3A00020635" target="_blank" >RIV/60461373:22340/08:00020635 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Raman spectral detection and assessment of thin organic layers on metal substrates: systematic approach from substrate praparation to map evaluation

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Raman spectral mapping of thin organic layers on metal substrates is an important analytical tool to characterize these systems. Surface enhanced Raman scattering (SERS) spectroscopy is a suitable technique for analysis of such layers. Development of newSERS-active surfaces with repeatable properties and without disturbing adsorbed species is one of the important steps for reliable assessment of thin organic layers designed. This paper presents new SERS-active substrates suitable for both macro- (mm scale) and microscopic (mm scale) spectral mapping, which allow an easy regeneration for repetitive experiments. Both gold and silver SERS-active surfaces prepared by electrochemical deposition were tested. Complete map data evaluation utilities were newlydesigned and applied; using both ordinary used and newly modified mathematical algorithms and chemometrical procedures. Evaluation of data starts with Finite Impulse Response (FIR) filtration algorithms to eliminate spectral interference

  • Název v anglickém jazyce

    Raman spectral detection and assessment of thin organic layers on metal substrates: systematic approach from substrate praparation to map evaluation

  • Popis výsledku anglicky

    Raman spectral mapping of thin organic layers on metal substrates is an important analytical tool to characterize these systems. Surface enhanced Raman scattering (SERS) spectroscopy is a suitable technique for analysis of such layers. Development of newSERS-active surfaces with repeatable properties and without disturbing adsorbed species is one of the important steps for reliable assessment of thin organic layers designed. This paper presents new SERS-active substrates suitable for both macro- (mm scale) and microscopic (mm scale) spectral mapping, which allow an easy regeneration for repetitive experiments. Both gold and silver SERS-active surfaces prepared by electrochemical deposition were tested. Complete map data evaluation utilities were newlydesigned and applied; using both ordinary used and newly modified mathematical algorithms and chemometrical procedures. Evaluation of data starts with Finite Impulse Response (FIR) filtration algorithms to eliminate spectral interference

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    CB - Analytická chemie, separace

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2008

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Raman Spectroscopy

  • ISSN

    0377-0486

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    39

  • Číslo periodika v rámci svazku

    4

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    10

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000255206600012

  • EID výsledku v databázi Scopus