Studium chemických stavů elektrochemicky-dopovaných jednostěnných uhlíkových nanotrubek pomocí Ramanovy spektroelektrochemie a ex situ Röntgenové fotoelektronové spektroskopie
Popis výsledku
Shluky elektrochemicky-dopovaných jednostěnných uhlíkových nanotrubek byly studovány pomocí kombinace Röntgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS) a Ramanovy spektroskopie. Ex situ měření na rozdíl od in situ měření ukázali značný pokles úrovně dopování. Nicméně, po počátečním poklesu dopování bylo zjištěno, že se elektronová struktura (úroveň dopování) shluků nanotrubek již nemění. Elementární analýza metodou XPS ukázala, že v důsledku kompenzace náboje během dopování, ionty elektrolytu pronikají doshluků nanotrubek. Kromě toho, n-dopovaný (elektrochemicky redukovaný) vzorek vykazoval nárůst relativní povrchové koncentrace C-O funkčních skupin. Tento nárust byl pravděpodobně způsoben elektrolýzou ClO4-iontů, přičemž produkty elektrolýzy modifikovaly povrch jednostěnných nanotrubek.
Klíčová slova
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Chemical states of electrochemically doped single wall carbon nanotubes as probed by in situ Raman spectroelectrochemistry and ex situ X-ray photoelectron spectroscopy
Popis výsledku v původním jazyce
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was combined with Raman spectroelectrochemistry to study the electrochemically doped states of single wall carbon nanotube (SWCNT) bundles. The ex situ measurements indicated a significant drop of doping level as compared to in situ measurements. However, after this initial decrease of the doping level, the electronic structure of SWCNT bundles was found to be stable. The XPS elemental analysis indicated that electrolyte ions penetrate into the nanotube bundles. Furthermore, for the n-doped (electrochemically reduced) sample, an increase of the relative surface concentration of different C-O groups was observed, which was caused by electrochemical reduction of ClO4- ions. Comparison of the ex situ Raman and XP spectra showed that an electrode potential shift of 1 V corresponds to the Fermi level shift of ca. 0.5 eV.
Název v anglickém jazyce
Chemical states of electrochemically doped single wall carbon nanotubes as probed by in situ Raman spectroelectrochemistry and ex situ X-ray photoelectron spectroscopy
Popis výsledku anglicky
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was combined with Raman spectroelectrochemistry to study the electrochemically doped states of single wall carbon nanotube (SWCNT) bundles. The ex situ measurements indicated a significant drop of doping level as compared to in situ measurements. However, after this initial decrease of the doping level, the electronic structure of SWCNT bundles was found to be stable. The XPS elemental analysis indicated that electrolyte ions penetrate into the nanotube bundles. Furthermore, for the n-doped (electrochemically reduced) sample, an increase of the relative surface concentration of different C-O groups was observed, which was caused by electrochemical reduction of ClO4- ions. Comparison of the ex situ Raman and XP spectra showed that an electrode potential shift of 1 V corresponds to the Fermi level shift of ca. 0.5 eV.
Klasifikace
Druh
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
CG - Elektrochemie
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2008
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Physical Chemistry C
ISSN
1932-7447
e-ISSN
—
Svazek periodika
112
Číslo periodika v rámci svazku
36
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—
Základní informace
Druh výsledku
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP
CG - Elektrochemie
Rok uplatnění
2008