Long-lived transient anion of c-C4F8O
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388955%3A_____%2F18%3A00487707" target="_blank" >RIV/61388955:_____/18:00487707 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.5017478" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.5017478</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.5017478" target="_blank" >10.1063/1.5017478</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Long-lived transient anion of c-C4F8O
Popis výsledku v původním jazyce
We report partial cross sections for electron attachment to c-C4F8O, a gas with promising technological applications in free-electron-rich environments. The dissociative electron attachment leads to a number of anionic fragments resulting from complex bond-breaking and bond-forming processes. However, the anion with the highest abundance is the non-dissociated (transient) parent anion which is formed around 0.9 eV electron energy. Its lifetime reaches tens of microseconds. We discuss the origin of this long lifetime, the anion's strong interactions with other molecules, and the consequences for electron scavenging properties of c-C4F8O in denser environments, in particular for its use in mixtures with CO2 and N-2. Published by AIP Publishing.
Název v anglickém jazyce
Long-lived transient anion of c-C4F8O
Popis výsledku anglicky
We report partial cross sections for electron attachment to c-C4F8O, a gas with promising technological applications in free-electron-rich environments. The dissociative electron attachment leads to a number of anionic fragments resulting from complex bond-breaking and bond-forming processes. However, the anion with the highest abundance is the non-dissociated (transient) parent anion which is formed around 0.9 eV electron energy. Its lifetime reaches tens of microseconds. We discuss the origin of this long lifetime, the anion's strong interactions with other molecules, and the consequences for electron scavenging properties of c-C4F8O in denser environments, in particular for its use in mixtures with CO2 and N-2. Published by AIP Publishing.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10403 - Physical chemistry
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA17-04844S" target="_blank" >GA17-04844S: Účinné průřezy a dynamika elektronového rozptylu na molekulárních systémech</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2018
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Chemical Physics
ISSN
0021-9606
e-ISSN
—
Svazek periodika
148
Číslo periodika v rámci svazku
7
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000425808000017
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85042227581