Non-destructive depth profile reconstruction of single-layer graphene using angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388955%3A_____%2F19%3A00520350" target="_blank" >RIV/61388955:_____/19:00520350 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68378271:_____/19:00520350
Výsledek na webu
<a href="https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.06.083" target="_blank" >https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.06.083</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.06.083" target="_blank" >10.1016/j.apsusc.2019.06.083</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Non-destructive depth profile reconstruction of single-layer graphene using angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy
Popis výsledku v původním jazyce
We used angular-resolved C 1s, O 1s, and Cu 3p photoelectron spectra to acquire non-destructive concentration depth profiles and for in-depth distribution of resolved bonding states by Maximum Entropy Method
Název v anglickém jazyce
Non-destructive depth profile reconstruction of single-layer graphene using angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy
Popis výsledku anglicky
We used angular-resolved C 1s, O 1s, and Cu 3p photoelectron spectra to acquire non-destructive concentration depth profiles and for in-depth distribution of resolved bonding states by Maximum Entropy Method

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2019
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)