Polymerizace pevné fáze C60 v důsledku bombardování klastry iontů C60
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389005%3A_____%2F09%3A00323219" target="_blank" >RIV/61389005:_____/09:00323219 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Polymerization of solid C60 under C60 cluster ion bombardment
Popis výsledku v původním jazyce
The structure transformation occurring in fullerene film under bombardment by 50 keV C60cluster ions is reported. The Raman spectra of the irradiated C60 films reveal a new peak rising at 1458 cm1 with an increase in the ion fluence. This feature of theRaman spectra suggests linear polymerization of solid C60 induced by the cluster ion impacts. The aligned C60 polymeric chains composing about 5?10 fullerene molecules have been distinguished on the film surface after the high-fluence irradiation using atomic force microscopy (AFM). The surface profiling analysis of the irradiated films has revealed pronounced sputtering during the treatment. The obtained results indicate that the C60 polymerization occurs in a deep layer situated more than 40 nm belowthe film surface. The deep location of the C60 polymeric phase indirectly confirms the dominant role of shock waves in the detected C60 phase transformation.
Název v anglickém jazyce
Polymerization of solid C60 under C60 cluster ion bombardment
Popis výsledku anglicky
The structure transformation occurring in fullerene film under bombardment by 50 keV C60cluster ions is reported. The Raman spectra of the irradiated C60 films reveal a new peak rising at 1458 cm1 with an increase in the ion fluence. This feature of theRaman spectra suggests linear polymerization of solid C60 induced by the cluster ion impacts. The aligned C60 polymeric chains composing about 5?10 fullerene molecules have been distinguished on the film surface after the high-fluence irradiation using atomic force microscopy (AFM). The surface profiling analysis of the irradiated films has revealed pronounced sputtering during the treatment. The obtained results indicate that the C60 polymerization occurs in a deep layer situated more than 40 nm belowthe film surface. The deep location of the C60 polymeric phase indirectly confirms the dominant role of shock waves in the detected C60 phase transformation.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Applied Physics A - Materials Science & Processing
ISSN
0947-8396
e-ISSN
—
Svazek periodika
95
Číslo periodika v rámci svazku
-
Stát vydavatele periodika
DE - Spolková republika Německo
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000264809500038
EID výsledku v databázi Scopus
—