Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Neutron irradiation study of silicon photomultipliers from different vendors

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389005%3A_____%2F17%3A00473764" target="_blank" >RIV/61389005:_____/17:00473764 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/68407700:21340/17:00315299

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2016.06.101" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2016.06.101</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2016.06.101" target="_blank" >10.1016/j.nima.2016.06.101</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Neutron irradiation study of silicon photomultipliers from different vendors

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We present recent results on the investigation of the KEtEK, ZECOTEK, HAMAMATSU and SENSL SiPM properties after irradiation by the 6-35 MeV neutrons. The typical neutron fluence was about 10(12) n/cm(2). The changing of the internal structure of the irradiated SiPMs was studied by the measuring of the C-V and C-f characteristics. We have observed the strong influence of the SiPM manufacturing technology on their radiation hardness. The application of the obtained results to the development of the readout electronics is discussed.

  • Název v anglickém jazyce

    Neutron irradiation study of silicon photomultipliers from different vendors

  • Popis výsledku anglicky

    We present recent results on the investigation of the KEtEK, ZECOTEK, HAMAMATSU and SENSL SiPM properties after irradiation by the 6-35 MeV neutrons. The typical neutron fluence was about 10(12) n/cm(2). The changing of the internal structure of the irradiated SiPMs was studied by the measuring of the C-V and C-f characteristics. We have observed the strong influence of the SiPM manufacturing technology on their radiation hardness. The application of the obtained results to the development of the readout electronics is discussed.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10304 - Nuclear physics

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2017

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A

  • ISSN

    0168-9002

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    845

  • Číslo periodika v rámci svazku

    FEB

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    114-117

  • Kód UT WoS článku

    000394556300028

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-84997542831