Characterization of graphene oxide film by implantation of low energy copper ions
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389005%3A_____%2F19%3A00520862" target="_blank" >RIV/61389005:_____/19:00520862 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/60461373:22310/19:43918090 RIV/44555601:13440/19:43894592
Výsledek na webu
<a href="https://doi.org/10.1016/j.nimb.2019.03.021" target="_blank" >https://doi.org/10.1016/j.nimb.2019.03.021</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2019.03.021" target="_blank" >10.1016/j.nimb.2019.03.021</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Characterization of graphene oxide film by implantation of low energy copper ions
Popis výsledku v původním jazyce
Graphene oxide (GO) is an electrical insulator as most of the carbon atoms in this material are spa-hybridized. Its physical, optical and chemical properties depend on the type and degree of reduction process. Presently, copper ion irradiation of GO foil has been performed at Ion Beam Center of the Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf to investigate the behavior of a set of GO foils under this irradiation at low energy and different fluences up to 5 x 10(16) ions/cm(2). The compositional and optical properties of graphene oxide have been studied as a function of the fluences of implanted copper ions in the wavelength range 400-1000 nm. The results of ellipsometry microscopy, helium Rutherford backscattering spectroscopy, elastic recoil detection analysis, Raman spectroscopy and SEM-EDX measurements will be presented and discussed.
Název v anglickém jazyce
Characterization of graphene oxide film by implantation of low energy copper ions
Popis výsledku anglicky
Graphene oxide (GO) is an electrical insulator as most of the carbon atoms in this material are spa-hybridized. Its physical, optical and chemical properties depend on the type and degree of reduction process. Presently, copper ion irradiation of GO foil has been performed at Ion Beam Center of the Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf to investigate the behavior of a set of GO foils under this irradiation at low energy and different fluences up to 5 x 10(16) ions/cm(2). The compositional and optical properties of graphene oxide have been studied as a function of the fluences of implanted copper ions in the wavelength range 400-1000 nm. The results of ellipsometry microscopy, helium Rutherford backscattering spectroscopy, elastic recoil detection analysis, Raman spectroscopy and SEM-EDX measurements will be presented and discussed.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10301 - Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect)
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2019
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B
ISSN
0168-583X
e-ISSN
—
Svazek periodika
460
Číslo periodika v rámci svazku
12
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
169-174
Kód UT WoS článku
000504510900032
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85063340901