Charakterizace nanostruktur a nanočástic s využitím mikroskopie atomových sil (AFM)

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389013%3A_____%2F04%3A00101482" target="_blank" >RIV/61389013:_____/04:00101482 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Charakterizace nanostruktur a nanočástic s využitím mikroskopie atomových sil (AFM)

Popis výsledku v původním jazyce

V příspěvku jsou prezentovány výsledky dosažené pomocí mikroskopie atomových sil při 1) studiu morfologie povrchů nanokompozitních materiálů a při 2) charakterizaci nanočástic deponovaných na substrátech.

Název v anglickém jazyce

Characterization of nanostructures and nanoparticles using atomic force microscopy

Popis výsledku anglicky

Results on 1) surface morphology of nanocomposites and 2) characterization of surface-deposited nanoparticles, obtained by atomic force microscopy, are described.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Zborník

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

3

Strana od-do

24-26

Název nakladatele

Ústav polymérov

Místo vydání

Bratislava

Místo konání akce

Smolenice

Datum konání akce

26. 9. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—