Použití metod RBS, XPS a TEM pro studium rozhraní polymeru a kovu po plasmatické úpravě
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389013%3A_____%2F07%3A00087702" target="_blank" >RIV/61389013:_____/07:00087702 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/61389005:_____/07:00087702 RIV/44555601:13440/08:00003908 RIV/60461373:22310/07:00020009
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
RBS, XPS, and TEM study of metal and polymer interface modified by plasma treatment
Popis výsledku v původním jazyce
We performed a study of the diffusion of Ag and Au atoms in polyethyleneterephtalate (PET). Thin metal layers were deposited using a diode-sputtering technique on polymer foils at room temperature. Simultaneous post-deposition annealing and plasma treatments were used to induce metal?polymer intermixing. Rutherford back-scattering spectrometry and X-ray photoelectron spectroscopy were used to determine the integral amount of metal and chemical structure in the surface layer. After plasma treatment Ag thin films exhibit dramatic changes of chemical composition and an integral amount of metal compared to Au thin films. Transmission Electron Microscopy shows the differences in the size and the depth distribution of metal particles, depending on the annealing temperature at the metal?polymer interface.
Název v anglickém jazyce
RBS, XPS, and TEM study of metal and polymer interface modified by plasma treatment
Popis výsledku anglicky
We performed a study of the diffusion of Ag and Au atoms in polyethyleneterephtalate (PET). Thin metal layers were deposited using a diode-sputtering technique on polymer foils at room temperature. Simultaneous post-deposition annealing and plasma treatments were used to induce metal?polymer intermixing. Rutherford back-scattering spectrometry and X-ray photoelectron spectroscopy were used to determine the integral amount of metal and chemical structure in the surface layer. After plasma treatment Ag thin films exhibit dramatic changes of chemical composition and an integral amount of metal compared to Au thin films. Transmission Electron Microscopy shows the differences in the size and the depth distribution of metal particles, depending on the annealing temperature at the metal?polymer interface.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Vacuum
ISSN
0042-207X
e-ISSN
—
Svazek periodika
82
Číslo periodika v rámci svazku
-
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
307-310
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—