Strukturné defekty v Bi2Te3 monokrystalech dopovaných mědí

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389013%3A_____%2F07%3A00099092" target="_blank" >RIV/61389013:_____/07:00099092 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/61388980:_____/07:00099092
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Structural defects in Cu-doped Bi2Te3 single crystals
Popis výsledku v původním jazyce
The relation between the concentration of free charge carriers and the concentration of copper atoms in Bi2Te3 single crystals doped with copper over a wide range of concentrations has been investigated, with the aim of clarifying the existence of inactive Cu ions. Changes in the concentration of free charge carriers arising from Cu-doping of the melt with that induced by electrochemical intercalation of copper are compared. Models of possible defect structures are proposed for both doped and intercalated single crystals of Bi2Te3.
Název v anglickém jazyce
Structural defects in Cu-doped Bi2Te3 single crystals
Popis výsledku anglicky
The relation between the concentration of free charge carriers and the concentration of copper atoms in Bi2Te3 single crystals doped with copper over a wide range of concentrations has been investigated, with the aim of clarifying the existence of inactive Cu ions. Changes in the concentration of free charge carriers arising from Cu-doping of the melt with that induced by electrochemical intercalation of copper are compared. Models of possible defect structures are proposed for both doped and intercalated single crystals of Bi2Te3.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
CA - Anorganická chemie
OECD FORD obor
—

Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)