Microstructure and ellipsometric modelling of the optical properties of very thin silver films for application in plasmonics.
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389013%3A_____%2F17%3A00475557" target="_blank" >RIV/61389013:_____/17:00475557 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216275:25310/17:39911344
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2017.03.009" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2017.03.009</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2017.03.009" target="_blank" >10.1016/j.tsf.2017.03.009</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Microstructure and ellipsometric modelling of the optical properties of very thin silver films for application in plasmonics.
Popis výsledku v původním jazyce
The present paper reports results for the optical properties of the nanocrystalline silver thin films in attempt to understand the effects of the particle size. The microstructure of the films was probed by scanning electronmicroscopy, Atomic Force microscopy (AFM) and X-ray diffraction (XRD). The size of the crystallites/grains calculated fromthe XRDmeasurements by the Debye-Scherrer formula is in a good agreementwith the AFMresults. The optical propertieswere determined fromspectral ellipsometric measurements.
Název v anglickém jazyce
Microstructure and ellipsometric modelling of the optical properties of very thin silver films for application in plasmonics.
Popis výsledku anglicky
The present paper reports results for the optical properties of the nanocrystalline silver thin films in attempt to understand the effects of the particle size. The microstructure of the films was probed by scanning electronmicroscopy, Atomic Force microscopy (AFM) and X-ray diffraction (XRD). The size of the crystallites/grains calculated fromthe XRDmeasurements by the Debye-Scherrer formula is in a good agreementwith the AFMresults. The optical propertieswere determined fromspectral ellipsometric measurements.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10402 - Inorganic and nuclear chemistry
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/LM2015082" target="_blank" >LM2015082: Centrum materiálů a nanotechnologií</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Thin Solid Films
ISSN
0040-6090
e-ISSN
—
Svazek periodika
628
Číslo periodika v rámci svazku
30 April
Stát vydavatele periodika
CH - Švýcarská konfederace
Počet stran výsledku
9
Strana od-do
22-30
Kód UT WoS článku
000400215400004
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85014624663