Sada pro zalévání vzorků pro elektronovou mikroskopii

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389013%3A_____%2F25%3A00642769" target="_blank" >RIV/61389013:_____/25:00642769 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/60077344:_____/25:00642769 RIV/68081731:_____/25:00642769

Výsledek na webu

<a href="https://isdv.upv.gov.cz/webapp/resdb.print_detail.det?pspis=PUV/43173" target="_blank" >https://isdv.upv.gov.cz/webapp/resdb.print_detail.det?pspis=PUV/43173</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Sada pro zalévání vzorků pro elektronovou mikroskopii

Popis výsledku v původním jazyce

Byla vytvořena sada pro zalévání vzorků do modifikovaných pryskyřic na bázi uhlíku, které jsou odolnější k nabíjení a poškození při interakci s elektronovým svazkem. Sada nalezne uplatnění při elektronově-mikroskopických analýzách, které vyžadují krájet vzorky do podoby ultratenkých řezů s tloušťkou pod 100 nm, jako je tomu při pozorování v transmisním elektronovém mikroskopu (dále TEM) nebo ve skenovacím elektronovém mikroskopu (dále SEM) při použití metod pro standardní i trojrozměrnou analýzu vzorků, a to zejména pomocí technik array tomografie (AT), serial block face SEM (SBF) nebo focus-ion-beam SEM (FIB). Podstatou řešení je, že do běžných zalévacích pryskyřic (epoxidových, akrylátových, či jiných vhodných pryskyřic) je před vytvrzením přidáno 0,5 až 15 % hmotn. stabilizačního činidla, které se působením elektronového svazku rozpadá na nízkomolekulární fragmenty odvádějící náboj ke stěnám komory mikroskopu.

Název v anglickém jazyce

An Embedding Set for Electron Microscopy

Popis výsledku anglicky

A set has been developed for embedding samples in modified carbon-based resins that are more resistant to charging and damage during interaction with an electron beam. The set is intended for use in electron-microscopic analyses that require cutting samples into ultrathin sections with a thickness below 100 nm, necessary for observations using a transmission electron microscope (TEM), or in a scanning electron microscope (SEM) when employing methods for both standard and three-dimensional sample analysis—particularly techniques such as array tomography (AT), serial block-face SEM (SBF), or focused-ion-beam SEM (FIB). The essence of the solution is that 0.5 to 15 wt% of a stabilising agent is added to common embedding resins (epoxy, acrylate, or other suitable resins) before curing. Upon exposure to the electron beam, this stabilising agent decomposes into low-molecular-weight fragments that conduct charge away toward the walls of the microscope chamber.

Druh

F_uzit - Užitný vzor

CEP obor

—

OECD FORD obor

10404 - Polymer science

Projekt

<a href="/cs/project/TN02000020" target="_blank" >TN02000020: Centrum pokročilé elektronové a fotonové optiky</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2025

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Číslo patentu nebo vzoru

38848

Vydavatel

CZ001 -

Název vydavatele

Industrial Property Office

Místo vydání

Prague

Stát vydání

CZ - Česká republika

Datum přijetí

—

Název vlastníka

Biologické centrum AV ČR, v. v. i. – Ústav makromolekulární chemie AV ČR, v. v. i. – Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.

Způsob využití

A - Výsledek využívá pouze poskytovatel

Druh možnosti využití

V - Výsledek je využíván vlastníkem