Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

High-precision FoM measurement setup for Ti:sapphire crystals

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389021%3A_____%2F23%3A00573332" target="_blank" >RIV/61389021:_____/23:00573332 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/46747885:24220/23:00010876

  • Výsledek na webu

    <a href="https://opg.optica.org/ao/abstract.cfm?uri=ao-62-5-1345" target="_blank" >https://opg.optica.org/ao/abstract.cfm?uri=ao-62-5-1345</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1364/AO.479254" target="_blank" >10.1364/AO.479254</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    High-precision FoM measurement setup for Ti:sapphire crystals

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The figure of merit (FoM) of Ti:sapphire (Ti:Sa) crystals is a generally used means to evaluate the quality of the crystals. Despite the importance of Ti:Sa, the question of FoM measurement precision stayed out of focus, while the commercially available spectrometers provide unsatisfactory 3σ precision reaching ±60%. In this paper, we present a setup for a single-pass high-precision transmission measurement for three different wavelengths (532, 780, and 1560 nm) based on Nd:YAG and Er:YAG lasers. A synchronous detection via a double integrated sphere enabled us to achieve the transmission uncertainty of 0,01–0,03%. With the presented setup, we show that it is possible to determine the FoM values with 3σ precision of ±7, 5 %. Owing to the high FoM precision, we were able to trace spatial inhomogeneities of an unannealed Ti:Sa crystal produced by a commercial manufacturer Crytur. Our measurements demonstrate that the FoM values can be significantly affected by the crystal inhomogeneities and angular mismatch between the c axis of the Ti:Sa and polarization orientation.

  • Název v anglickém jazyce

    High-precision FoM measurement setup for Ti:sapphire crystals

  • Popis výsledku anglicky

    The figure of merit (FoM) of Ti:sapphire (Ti:Sa) crystals is a generally used means to evaluate the quality of the crystals. Despite the importance of Ti:Sa, the question of FoM measurement precision stayed out of focus, while the commercially available spectrometers provide unsatisfactory 3σ precision reaching ±60%. In this paper, we present a setup for a single-pass high-precision transmission measurement for three different wavelengths (532, 780, and 1560 nm) based on Nd:YAG and Er:YAG lasers. A synchronous detection via a double integrated sphere enabled us to achieve the transmission uncertainty of 0,01–0,03%. With the presented setup, we show that it is possible to determine the FoM values with 3σ precision of ±7, 5 %. Owing to the high FoM precision, we were able to trace spatial inhomogeneities of an unannealed Ti:Sa crystal produced by a commercial manufacturer Crytur. Our measurements demonstrate that the FoM values can be significantly affected by the crystal inhomogeneities and angular mismatch between the c axis of the Ti:Sa and polarization orientation.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20303 - Thermodynamics

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/EF16_026%2F0008390" target="_blank" >EF16_026/0008390: Partnerství pro excelenci v superpřesné optice</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2023

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Optics

  • ISSN

    1559-128X

  • e-ISSN

    2155-3165

  • Svazek periodika

    62

  • Číslo periodika v rámci svazku

    5

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    1345-1350

  • Kód UT WoS článku

    000942356700003

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85147849041