Spektrální elipsometrie sestavy uhlíkových nanotrubic v SiC povrchovém rozkladu

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27350%2F04%3A00011059" target="_blank" >RIV/61989100:27350/04:00011059 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Spectroscopic ellipsometry of carbon nanotube formation in SiC surface decomposition

Popis výsledku v původním jazyce

We have studied the initial stage of formation of carbon nanotube layers in surface decomposition of SiC substrate by meansof spectroscopic ellipsometry. Before heating, the surface of the SiC substrate was covered with an SiO layer that had been formedby natural oxidation. By heating up to 1100 C, reduction of SiO layer occurs. Between 1150 and 1300 C, the surface of SiC decomposes and a (graphiteqvoid) layer is formed on the surface. Then, by heating at 1300 C for longer time, a carbon nanotube layeris formed. As a result, we have detected the beginning of the surface decomposition at 1150 C and the beginning of the formation of a carbon nanotube layer at 1300 C.

Název v anglickém jazyce

Spectroscopic ellipsometry of carbon nanotube formation in SiC surface decomposition

Popis výsledku anglicky

We have studied the initial stage of formation of carbon nanotube layers in surface decomposition of SiC substrate by meansof spectroscopic ellipsometry. Before heating, the surface of the SiC substrate was covered with an SiO layer that had been formedby natural oxidation. By heating up to 1100 C, reduction of SiO layer occurs. Between 1150 and 1300 C, the surface of SiC decomposes and a (graphiteqvoid) layer is formed on the surface. Then, by heating at 1300 C for longer time, a carbon nanotube layeris formed. As a result, we have detected the beginning of the surface decomposition at 1150 C and the beginning of the formation of a carbon nanotube layer at 1300 C.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA202%2F03%2F0776" target="_blank" >GA202/03/0776: Magnetooptické jevy v magnetických nanostrukturách</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Thin Solid Films

ISSN

0040-6090/04

e-ISSN

—

Svazek periodika

Neuveden

Číslo periodika v rámci svazku

455-456

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

339-343

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—