Spectral interferometric technique to measure the ellipsometric phase of a thin-film structure

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27350%2F09%3A00021702" target="_blank" >RIV/61989100:27350/09:00021702 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Spectral interferometric technique to measure the ellipsometric phase of a thin-film structure

Popis výsledku v původním jazyce

A white-light spectral interferometric technique is used to retrieve the ellipsometric phase of a thin-film structure.

Název v anglickém jazyce

Spectral interferometric technique to measure the ellipsometric phase of a thin-film structure

Popis výsledku anglicky

A white-light spectral interferometric technique is used to retrieve the ellipsometric phase of a thin-film structure.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Optics Letters

ISSN

0146-9592

e-ISSN

—

Svazek periodika

34

Číslo periodika v rámci svazku

17

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

3

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000270114400041

EID výsledku v databázi Scopus

—