Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Selective sensitivity of ellipsometry to magnetic nanostructures

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27360%2F11%3A86078880" target="_blank" >RIV/61989100:27360/11:86078880 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Selective sensitivity of ellipsometry to magnetic nanostructures

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Magneto-optic (MO) ellipsometry of ferromagnetic materials is extremely sensitive to ultra-thin films, multilayers, and nanostructures. It gives a possibility to measure all components of the magnetization vector in the frame of the magneto-optic vectormagnetometry and enables us to separate magnetic contributions from different depths and materials in nanostructures, which is reviewed in this article. The method is based on ellipsometric separation using the selective MO Kerr effect. The figure of merit used to quantify the ellipsometric selectivity to magnetic nanostructures is defined on the basis of linear matrix algebra. We show that the method can be also used to separate MO contributions from areas of the same ferromagnetic materials depositedon different buffer layers.

  • Název v anglickém jazyce

    Selective sensitivity of ellipsometry to magnetic nanostructures

  • Popis výsledku anglicky

    Magneto-optic (MO) ellipsometry of ferromagnetic materials is extremely sensitive to ultra-thin films, multilayers, and nanostructures. It gives a possibility to measure all components of the magnetization vector in the frame of the magneto-optic vectormagnetometry and enables us to separate magnetic contributions from different depths and materials in nanostructures, which is reviewed in this article. The method is based on ellipsometric separation using the selective MO Kerr effect. The figure of merit used to quantify the ellipsometric selectivity to magnetic nanostructures is defined on the basis of linear matrix algebra. We show that the method can be also used to separate MO contributions from areas of the same ferromagnetic materials depositedon different buffer layers.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Thin Solid Films

  • ISSN

    0040-6090

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    519

  • Číslo periodika v rámci svazku

    9

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    2627-2632

  • Kód UT WoS článku

    000289174200013

  • EID výsledku v databázi Scopus