Statistika a metrologie

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15310%2F00%3A00001017" target="_blank" >RIV/61989592:15310/00:00001017 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Statistika a metrologie
Popis výsledku v původním jazyce
Monografie je venována reaení statistických problému motivovaných metrologií. Je zde uvedeno reaení nekterých typických problému jako je konstrukce optimálních etalonovývh sítí, odhady parametru kalibracní krivky, analýza nejistot typu A a B, eliminace systematických vlivu ap. Krome toho je zde vyvinuta systematická teorie pro zpracování dat v regresních modelech s nízkou nelinearitou. Cást knihy je venována plánování experimentu a statistické teorii odhadu a testování v modelech s podmínkami na parametry.
Název v anglickém jazyce
Statistics and metrology
Popis výsledku anglicky
The monograph is devoted to statistical solutions of problems motivated by metrology. Several typical problems as a construction of optimum etalon networks, estimation of parameters of a calibration curve, an analysis of uncertainties of the type A andB,elimination of systematic effects, etc. are solved. Except this a systematic theory of statistical algorithms for processing data in regression models with a weak nonlinearity is developed. One part of the monograph is devoted to design of experiment and statistical theory of estimation and testing in models with constraints on parameters.

Projekt
<a href="/cs/project/GA201%2F99%2F0327" target="_blank" >GA201/99/0327: Odhady a testy v regresních modelech s nízkou nelinearitou</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2000
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)