Waviness analysis of glossy surfaces based on deformation of a light source reflection
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F67985556%3A_____%2F23%3A00575635" target="_blank" >RIV/67985556:_____/23:00575635 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://link.springer.com/article/10.1007/s11998-023-00775-6" target="_blank" >https://link.springer.com/article/10.1007/s11998-023-00775-6</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1007/s11998-023-00775-6" target="_blank" >10.1007/s11998-023-00775-6</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Waviness analysis of glossy surfaces based on deformation of a light source reflection
Popis výsledku v původním jazyce
The evaluation of waviness, also known as orange peel, is essential for the quality control of materials in industrial fields working with high gloss materials, e.g., coatings, automotive and metal fabrication. This paper presents an affordable noncontact method for waviness analysis based on a single image of the light source reflected from the surface under study. The spatial perturbations along the contour of the light source reflection are compared to the ideal contour and analyzed in the Fourier domain to obtain standard features that have been compared to commercial ripple characterization device. Additional three method-specific features are proposed and evaluated. Our method has been tested on a set of ten orange peel standards, ten effect, and three solid coating samples and shows promising performance in waviness characterization of glossy surfaces.
Název v anglickém jazyce
Waviness analysis of glossy surfaces based on deformation of a light source reflection
Popis výsledku anglicky
The evaluation of waviness, also known as orange peel, is essential for the quality control of materials in industrial fields working with high gloss materials, e.g., coatings, automotive and metal fabrication. This paper presents an affordable noncontact method for waviness analysis based on a single image of the light source reflected from the surface under study. The spatial perturbations along the contour of the light source reflection are compared to the ideal contour and analyzed in the Fourier domain to obtain standard features that have been compared to commercial ripple characterization device. Additional three method-specific features are proposed and evaluated. Our method has been tested on a set of ten orange peel standards, ten effect, and three solid coating samples and shows promising performance in waviness characterization of glossy surfaces.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
20205 - Automation and control systems
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA22-17529S" target="_blank" >GA22-17529S: Vizuální identifikátor vzhledu materiálů</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2023
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Coatings Technology and Research
ISSN
1547-0091
e-ISSN
1935-3804
Svazek periodika
20
Číslo periodika v rámci svazku
5
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
10
Strana od-do
1703-1712
Kód UT WoS článku
000999614900001
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85160606366