Analýza tenkých vrstev metodou SIMS

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F67985882%3A_____%2F07%3A00306519" target="_blank" >RIV/67985882:_____/07:00306519 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Analýza tenkých vrstev metodou SIMS

Popis výsledku v původním jazyce

Cílem práce je ukázat aplikační možnosti metody hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů - SIMS při analýze tenkých vrstev a povrchů.

Název v anglickém jazyce

Analysis of thin films with SIMS

Popis výsledku anglicky

The aim of this work was to demonstrate the aplication potential of the Secondary Ion Mass Spectrometry ? SIMS in the analysis of thin films and solid surfaces.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2007

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Zpravodaj ČVS

ISSN

1213-2705

e-ISSN

—

Svazek periodika

15

Číslo periodika v rámci svazku

1/2

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

9

Strana od-do

32-40

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—