Local refractive index sensitivity of plasmonic nanoparticles

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F67985882%3A_____%2F11%3A00367832" target="_blank" >RIV/67985882:_____/11:00367832 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Local refractive index sensitivity of plasmonic nanoparticles

Popis výsledku v původním jazyce

We report on an experimental characterization of the sensitivity of localized surface plasmons (LSP) to local changes in the refractive index at a nanometer scale. The method is based on forming a polymer mask covering different well defined areas of metallic nanoparticles and measuring the extinction peak shifts associated with the local refractive index changes. The experimental results are shown to correspond well with theoretical simulations. The results indicate that the sensitivity is strongly correlated with the profile of the LSP electric field.

Název v anglickém jazyce

Local refractive index sensitivity of plasmonic nanoparticles

Popis výsledku anglicky

We report on an experimental characterization of the sensitivity of localized surface plasmons (LSP) to local changes in the refractive index at a nanometer scale. The method is based on forming a polymer mask covering different well defined areas of metallic nanoparticles and measuring the extinction peak shifts associated with the local refractive index changes. The experimental results are shown to correspond well with theoretical simulations. The results indicate that the sensitivity is strongly correlated with the profile of the LSP electric field.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Optics Express

ISSN

1094-4087

e-ISSN

—

Svazek periodika

19

Číslo periodika v rámci svazku

10

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

9213-9220

Kód UT WoS článku

000290490200041

EID výsledku v databázi Scopus

—