Recent Development in Methods for Electron Optical Computations.
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F01%3A12010060" target="_blank" >RIV/68081731:_____/01:12010060 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Recent Development in Methods for Electron Optical Computations.
Popis výsledku v původním jazyce
Electron optical computations play an important role in the design of instruments such as scanning and transmission electron microscopes. This has led to the development of special software packages that attempt to meet a number of specific requirementsthat cannot be covered with more general software. The progress in the instrumentation induced by the ability to compute accurately has been often overlooked and the practical realization aspects are often more emphasized than the effort in the design stage. The development in electron optics could be easily traced in the proceedings of earlier electron microscopy meetings. More recently it has shifted specialized CPO (Charged Particle Optics) conferences, where the problems specific for microscopy playonly a smaller part.
Název v anglickém jazyce
Recent Development in Methods for Electron Optical Computations.
Popis výsledku anglicky
Electron optical computations play an important role in the design of instruments such as scanning and transmission electron microscopes. This has led to the development of special software packages that attempt to meet a number of specific requirementsthat cannot be covered with more general software. The progress in the instrumentation induced by the ability to compute accurately has been often overlooked and the practical realization aspects are often more emphasized than the effort in the design stage. The development in electron optics could be easily traced in the proceedings of earlier electron microscopy meetings. More recently it has shifted specialized CPO (Charged Particle Optics) conferences, where the problems specific for microscopy playonly a smaller part.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Microscopy, Barcelona 2001.
ISBN
—
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
29-30
Název nakladatele
Universitat de Barcelona
Místo vydání
Barcelona
Místo konání akce
Barcelona [ES]
Datum konání akce
4. 9. 2001
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—