Calculation of Aberration Coefficients by Ray Tracing.

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F03%3A12030074" target="_blank" >RIV/68081731:_____/03:12030074 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Calculation of Aberration Coefficients by Ray Tracing.

Popis výsledku v původním jazyce

Basic optical properties as well as aberation coefficients of electrostatic and magnetic round lenses and multipoles can be easily and quickly calculated with a standard program packaged like ELD or MLD [1]. They calculate cardinal elements and aberration coefficients of a lens directly by solving paraxial trajectory equation and aberration integrals from axial potential and fields, obtained from the computations by the first order finite element method. From known values of transfer matrix and aberration components we can evaluate positions and slopes of particle trajectories in a plane after a lens.

Název v anglickém jazyce

Calculation of Aberration Coefficients by Ray Tracing.

Popis výsledku anglicky

Basic optical properties as well as aberation coefficients of electrostatic and magnetic round lenses and multipoles can be easily and quickly calculated with a standard program packaged like ELD or MLD [1]. They calculate cardinal elements and aberration coefficients of a lens directly by solving paraxial trajectory equation and aberration integrals from axial potential and fields, obtained from the computations by the first order finite element method. From known values of transfer matrix and aberration components we can evaluate positions and slopes of particle trajectories in a plane after a lens.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2003

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Microscopy and Microanalysis

ISSN

1431-9276

e-ISSN

—

Svazek periodika

9

Číslo periodika v rámci svazku

Sup. 3

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

26-27

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—